Verschillende soorten van elektronenmicroscopen

Elektronenmicroscopie maakt gebruik van een gefocusseerde bundel van elektronen om hoge-resolutie beelden van een doel monster te creëren. Overwegende licht microscopen worden beperkt in hun vergroting door de golflengte van fotonen, zijn elektronenmicroscopen beperkt door de veel kleinere golflengte van elektronen, waardoor het bereiken van vergroting beneden tot bijna 0,05 nanometer. Er zijn vier belangrijke soorten van elektronenmicroscopen, die ruwweg beperkt door de aard van de gereflecteerde energie deze opnemen in het monster. Geschiedenis

De eerste elektronenmicroscoop, een transmissie-elektronenmicroscoop, werd gebouwd door de Duitse ingenieurs Max Knoll en Ernst Ruska in 1931. Hoewel het oorspronkelijke prototype behaalde een lagere vergroting dan die van de huidige licht microscopen, Knoll en Ruska succes bewees het ontwerp was mogelijk, en twee jaar later overtroffen de lichtmicroscoop in vergrotingsfactor. Alle volgende iteraties van de elektronenmicroscoop basis originele prototype.
Transmission Electron Microscope (TEM) op

transmissie elektronenmicroscopen
beelden geproduceerd door het opnemen van de elektronenbundel na heeft doorgegeven via een dun plakje van het monster. Het monster wordt op een koperdraad rooster geplaatst en onderworpen aan een elektronenbundel, die normaal uit actief hoge spanning over een wolfraamdraad. De elektronenbundel reist door een condensor lens, slaat het monster en gaat door objectieve en projectieve lenzen alvorens te worden verzameld op een fosforscherm. Zoals met alle vormen van elektronenmicroscopie, moet het doel specimen uitgedroogd en geïsoleerd in een vacuüm waterdamp verontreiniging, hetgeen ongewenste elektronverstrooiing kunnen veroorzaken. TEM produceren de hoogste vergroting van elektronenmicroscopen.
Scanning Electron Microscope (SEM) op Twitter

Aftastingselektronenmicroscopen, samen met de transmissie elektronenmicroscopen, zijn de meest schaal gebruikt. In tegenstelling tot de TEM, scanning elektronenmicroscopen produceren beelden door het verzamelen van de secundaire of inelastisch verstrooide elektronen die weerkaatsen op het oppervlak van een monster. De primaire elektronenbundel aflegt door verscheidene condensor lenzen, scan spoelen en een objectieflens voor dat op het oppervlak van het monster. De elektronenbundel wordt verstrooid op het raken van het monster en een secundaire elektronen detector verzamelt de verstrooide elektronen. Het elektron data is vervolgens raster-gescand om oppervlakte-beelden te produceren met aanzienlijke diepte van het veld.
Reflection Electron Microscope (REM) op

Reflectie elektronenmicroscopen
werken zeer vergelijkbaar met SEM qua structuur. Rems, echter, het verzamelen van de verstrooide of elastisch verstrooide elektronen na de primaire elektronenbundel de preparaatoppervlak slaat. Reflectie elektronenmicroscopen worden meestal gepaard met spin-gepolariseerde lage-energie-elektronenmicroscopie om de afbeelding van het magnetisch domein ondertekening van specimen oppervlakken in computerschakelschema bouw. ​​
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) op

Scanning transmissie elektronenmicroscopen, zoals de traditionele TEM, passeren een elektronenbundel door een dun plakje van het monster. In plaats van te focussen de elektronenbundel na het passeren van het monster, een STEM richt de lichtbundel op voorhand en bouwt het beeld door raster scanning. Scanning transmissie elektronenmicroscopen zijn zeer geschikt voor analytische mapping technieken zoals elektronen energie verlies spectroscopie en ringvormige donkere-veld microscopie.